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Nikon
  • 혁신적인 측정 솔루션

  • 세계 정상급 품질

  • 뛰어난 정밀도 실현

Nexiv

NEXIV VMZ-S

다양한 샘플을 다루는 범용 모델

상세사양
전용 광학계와 TTL 레이저 AF를 표준 탑재.
샘플 사이즈에 따라 스트로크가 다른 3 모델을 라인 업하고 있습니다.
다양한 측정 요구에 대해 고속·고정밀한 측정을 실현합니다.
μm대의 공차 관리를 고속/고정밀도/사용하기 쉽게 할 수 있습니다.

특징&기능

  • 6 종류의 고 NA 광학 줌 헤드
  • 고정밀도,고속측정이 가능한TTL (Through The Lens) 레이저 AF
  • 3종류의 입사각에 대응한 8분할LED링조명
  • 검색기능

iNEXIV VMA 시리즈

광시야에 의한 다양한 측정 용도

상세사양
광시야 측정이 가능한 3개의 스테이지 사이즈를 라인업.
프로브의 장착도 가능하며, 다양한 검사나 품질 관리에 위력을 발휘합니다.
넓은 시야와 긴 작동 거리에서 높이와 단차가 있는 샘플 측정에 적합한 엔트리 모델입니다.

특징&기능

  • 넓은 시야와 선명한 이미지
  • 견고한 73.5mm 작업 거리
  • 대형 XY 스트로크 및 긴 Z 스트로크
  • 높은 반복성을 가진 자동 초점
  • 레이저 AF (옵션)
  • 다양한 조명
  • 지능형 검색
  • 디지털 차트 대조
  • 확장 1.5x 고배율

NEXIV VMZ-K

2차원 측정과 높이 측정이 가능한 1대 2역의 고기능 시스템

상세사양
명시야 화상에 의한 2차원 측정에 가세해, 컨포컬 광학계에 의한 시야내 일괄 높이 측정을 실현. 
명시야 측정에서는 검출이 어려운 샘플도 컨포컬 광학계라면 고속/고정밀도의 측정이 가능합니다.

특징&기능

  • Nikon 독점 컨포컬 기술(공초점 기술) 로 동시 광역 높이 측정
  • 15배 브라이트 필드(명시야) 줌 광학을 이용한 2D 측정
  • 반도체 제조에서 300mm 웨이퍼 측정과 완벽 호환
  • 컨포컬 NEXIV 는 웨이퍼 레벨 CSP와 같은 고급 IC 패키지에 있는 다양한 범프 높이 측정 뿐만 아니라 MEMS 와 프로브 카드의 매우 복잡한 구조의 검사에도 최적으로 사용할 수 있습니다.

NEXIV VMZ-H3030

정밀한 스테이지 동작과 고성능 광학계에 의해 NEXIV 시리즈 최고 정밀도로의 측정을 실현합니다.

상세사양
엄격한 품질이 요구되는 측정 용도에 대응
NEXIV 시리즈 최고의 측정 정밀도를 실현. 
반도체 부품이나 정밀 금형 등 보다 엄격한 품질 관리가 요구되는 장면에서 위력을 발휘합니다.

특징&기능

  • 5종류의 고 NA 광학 줌 헤드
  • 고정밀도,고속측정이 가능한TTL (Through The Lens) 레이저 AF
  • 3종류의 입사각에 대응한 8분할 LED 링조명
  • 검색기능